Уважаемые коллеги!

Приглашаем вас принять участие в нашем онлайн-вебинаре, посвящённом передовым технологиям и возможностям в области сканирующей электронной микроскопии.

Дата: 27 ноября
Время: 10:00 (по московскому времени)
Формат: Онлайн (МТС ЛИНК). 

На вебинаре мы представим вам актуальные тенденции развития СЭМ и расскажем, как современные технологии помогают получать более качественные и информативные результаты.

Вы узнаете о:

• Новой линейке сканирующих электронных микроскопов METRIONLAB.
• Технологиях, расширяющих аналитические возможности.
• Принципах работы современных СЭМ.
• Примерах успешного применения в различных областях исследований (материаловедение, биология, нанотехнологии).

Мы покажем, как использовать потенциал сканирующей электронной микроскопии для разработки материалов и решения научных задач.

Вебинар будет полезен исследователям, инженерам, специалистам лабораторий и всем, кто интересуется современными методами микроскопии.

Для регистрации, пожалуйста, перейдите по ссылке.