Управление электронными свойствами микроскопических кристаллических образцов с помощью приложенного давления
И.В. Коробейников1, Н.В. Морозова1, С.В. Овсянников2, Е.Г. Шкварина1, А.А. Титов1, А.Н. Титов1
Проведено экспериментальное исследование эффекта приложенного давления на электронные свойства микроскопических полупроводниковых и полуметаллических образцов. Показана принципиальная возможность контролируемого изменения типа электропроводности кристаллов ZrTe2, ZrSe3, HgTe, z-Mn2O3 и сплавов кремний-германий с помощью приложенного давления. Полученные результаты открывают путь к созданию новых технологий для наноэлектроники. Для термоэлектриков семейства (Bi,Sb)2(Te,Se)3 и SnTe, а также для квазидвумерного ZrSe3 было показано, что приложенное давление может существенно улучшить их термоэлектрические параметры за счет значительных изменений в электронной структуре. Эффекты приложенного давления могут быть реализованы на практике в термоэлектрических генераторах, использующих, например, тонкопленочные термоэлементы с внутренними напряжениями.
Рис. 1. Возможные модели применения установленных эффектов. (а) Простая модель термоэлектрического преобразователя; (б) Схематический вид сбоку микроскопического p-n-p-транзистора.
- Stress-controlled n-p conductivity switch based on intercalated ZrTe2 / N.V. Morozova, I.V. Korobeynikov, E.G. Shkvarina, A.A. Titov, A.N. Titov, S.V. Ovsyannikov // Applied Physics Letters. — 2021. — V. 119. — P. 53103.
- Colossal enhancement of the thermoelectric power factor in stress-released orthorhombic phase of SnTe / N.V. Morozova, I.V. Korobeynikov, S.V. Ovsyannikov // Applied Physics Letters. — 2021. — V. 118. — P. 103903.
1.3.2. Физика конденсированных сред и физическое материаловедение. Работа выполнена в рамках темы государственного задания ИФМ УрО РАН Рег.№ АААА-А18-118020190098-5, Шифр «Электрон».